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Oberflachenanalytische Charakterisierung Von Metallischen Verunreinigungen Und Oxiden Auf GAAS

Oberflachenanalytische Charakterisierung Von Metallischen Verunreinigungen Und Oxiden Auf GAAS
Über Oberflachenanalytische Charakterisierung Von Metallischen Verunreinigungen Und Oxiden Auf GAAS

Der Autor entwickelt ein Verfahren zum quantitativen Nachweis von metallischen Spurenelementen, das es möglich macht, Oberflächenbelegungen auf GaAs mit sehr geringen Konzentrationen quantitativ nachzuweisen.

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  • Sprache:
  • Deutsch
  • ISBN:
  • 9783824420919
  • Einband:
  • Taschenbuch
  • Seitenzahl:
  • 138
  • Veröffentlicht:
  • 23. September 1997
  • Ausgabe:
  • 1997
  • Abmessungen:
  • 210x148x8 mm.
  • Gewicht:
  • 181 g.
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Beschreibung von Oberflachenanalytische Charakterisierung Von Metallischen Verunreinigungen Und Oxiden Auf GAAS

Der Autor entwickelt ein Verfahren zum quantitativen Nachweis von metallischen Spurenelementen, das es möglich macht, Oberflächenbelegungen auf GaAs mit sehr geringen Konzentrationen quantitativ nachzuweisen.

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