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Über Photo-induced Defects in Semiconductors

This is the first book to give a complete overview of the properties of deep-level, localized defects in semiconductors. These metastable defects exhibit complex interactions with the surrounding material, and can significantly affect the performance and stability of certain semiconductor devices.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9780521024457
  • Einband:
  • Taschenbuch
  • Seitenzahl:
  • 232
  • Veröffentlicht:
  • 9 März 2006
  • Abmessungen:
  • 152x229x14 mm.
  • Gewicht:
  • 350 g.
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Beschreibung von Photo-induced Defects in Semiconductors

This is the first book to give a complete overview of the properties of deep-level, localized defects in semiconductors. These metastable defects exhibit complex interactions with the surrounding material, and can significantly affect the performance and stability of certain semiconductor devices.

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