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Plasma Charging Damage

Über Plasma Charging Damage

In the 50 years since the invention of transistor, silicon integrated circuit (IC) technology has made astonishing advances. In state of the art silicon Ie manufacturing process, plasma is used in more than 20 different critical steps.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9781852331443
  • Einband:
  • Gebundene Ausgabe
  • Seitenzahl:
  • 346
  • Veröffentlicht:
  • 4. Oktober 2000
  • Ausgabe:
  • 2001
  • Abmessungen:
  • 234x156x20 mm.
  • Gewicht:
  • 1510 g.
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Beschreibung von Plasma Charging Damage

In the 50 years since the invention of transistor, silicon integrated circuit (IC) technology has made astonishing advances. In state of the art silicon Ie manufacturing process, plasma is used in more than 20 different critical steps.

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