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Point Defects in Semiconductors and Insulators

- Determination of Atomic and Electronic Structure from Paramagnetic Hyperfine Interactions

Über Point Defects in Semiconductors and Insulators

The precedent book with the title "Structural Analysis of Point Defects in Solids: An introduction to multiple magnetic resonance spectroscopy" ap peared about 10 years ago.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9783540426950
  • Einband:
  • Gebundene Ausgabe
  • Seitenzahl:
  • 492
  • Veröffentlicht:
  • 22. Januar 2003
  • Ausgabe:
  • 2003
  • Abmessungen:
  • 234x156x28 mm.
  • Gewicht:
  • 1950 g.
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Beschreibung von Point Defects in Semiconductors and Insulators

The precedent book with the title "Structural Analysis of Point Defects in Solids: An introduction to multiple magnetic resonance spectroscopy" ap peared about 10 years ago.

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