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Progress in Nanoscale Characterization and Manipulation

enthalten in Springer Tracts in Modern Physics-Reihe

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Über Progress in Nanoscale Characterization and Manipulation

It showcases recent advances in scanning electron microscopy, transmission electron microscopy and helium ion microscopy, including advanced spectroscopy, spherical-corrected microscopy, focused-ion imaging and in-situ microscopy.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9789811304538
  • Einband:
  • Gebundene Ausgabe
  • Seitenzahl:
  • 508
  • Veröffentlicht:
  • 14. September 2018
  • Ausgabe:
  • 12018
  • Abmessungen:
  • 155x235x0 mm.
  • Gewicht:
  • 934 g.
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Beschreibung von Progress in Nanoscale Characterization and Manipulation

It showcases recent advances in scanning electron microscopy, transmission electron microscopy and helium ion microscopy, including advanced spectroscopy, spherical-corrected microscopy, focused-ion imaging and in-situ microscopy.

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