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Quantum Metrology with Photoelectrons, Volume I: Foundations

Über Quantum Metrology with Photoelectrons, Volume I: Foundations

The increasing availability of photoelectron imaging experiments, along with the increasing sophistication of experimental techniques, and the availability of computational resources for analysis and numerics, has allowed for significant developments in such photoelectron metrology. This volume discusses the fundamental concepts along with recent and emerging applications.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9781681749990
  • Einband:
  • Gebundene Ausgabe
  • Seitenzahl:
  • 165
  • Veröffentlicht:
  • 30. April 2018
  • Abmessungen:
  • 186x263x17 mm.
  • Gewicht:
  • 508 g.
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Beschreibung von Quantum Metrology with Photoelectrons, Volume I: Foundations

The increasing availability of photoelectron imaging experiments, along with the increasing sophistication of experimental techniques, and the availability of computational resources for analysis and numerics, has allowed for significant developments in such photoelectron metrology. This volume discusses the fundamental concepts along with recent and emerging applications.

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