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Recent Developments in Atomic Force Microscopy and Raman Spectroscopy for Materials Characterization

von Chandra Shakher Pathak
Recent Developments in Atomic Force Microscopy and Raman Spectroscopy for Materials Characterization von Chandra Shakher Pathak
  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9781839682292
  • Einband:
  • Gebundene Ausgabe
  • Seitenzahl:
  • 274
  • Veröffentlicht:
  • 7. Januar 2022
  • Abmessungen:
  • 185x23x266 mm.
  • Gewicht:
  • 807 g.
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