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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

von Patrick Echlin, Joseph Goldstein, David C. Joy, Dale E. Newbury, Charles E. Lyman, Eric Lifshin, Alton D. Romig Jr., Charles Fiori
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis von Patrick Echlin Sie sparen 10% des UVP sparen 10%
  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9781461276531
  • Einband:
  • Taschenbuch
  • Seitenzahl:
  • 844
  • Veröffentlicht:
  • 28. September 2011
  • Ausgabe:
  • 11002
  • Abmessungen:
  • 178x45x254 mm.
  • Gewicht:
  • 1554 g.
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