Große Auswahl an günstigen Büchern
Alles immer versandkostenfrei!
Schnelle Lieferung per Post und DHL
Kundenservice
Login
  1. Startseite
  2. Bücher
  3. Wirtschaft & Schule
  4. Wissenschaft
  5. Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

von Patrick Echlin, Joseph Goldstein, David C. Joy, Dale E. Newbury, Charles E. Lyman, Eric Lifshin, Alton D. Romig Jr., Charles Fiori
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis von Patrick Echlin Sie sparen 16% des UVP sparen 16%
  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9781461276531
  • Einband:
  • Taschenbuch
  • Seitenzahl:
  • 844
  • Veröffentlicht:
  • 28 September 2011
  • Ausgabe:
  • 11002
  • Abmessungen:
  • 178x45x254 mm.
  • Gewicht:
  • 1554 g.
  Versandkostenfrei
  Versandfertig in 1-2 Wochen.

Über Patrick Echlin

Alle Bücher von Patrick Echlin anzeigen

Kund*innenbewertungen von Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis



Andere kauften auch ...
Ähnliche Bücher finden
Das Buch Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis ist in den folgenden Kategorien erhältlich:

Willkommen bei den Tales Buchfreunden und -freundinnen

Jetzt zum Newsletter anmelden und tolle Angebote und Anregungen für Ihre nächste Lektüre erhalten.