Name: Scanning Electron Microscopy, X-Ray Microanalysis, and Analytical Electron Microscopy
Price: 90.00 EUR
Availability: InStock
Author: John Armstrong
ISBN: 9780306435911

Scanning Electron Microscopy, X-Ray Microanalysis, and Analytical Electron Microscopy von John Armstrong

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Taschenbuch
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Über Scanning Electron Microscopy, X-Ray Microanalysis, and Analytical Electron Microscopy

The principal instruments include the scanning electron microscope, electron probe x-ray microanalyzer, and the analytical transmission electron microscope.

Sprache:
Englisch

ISBN:
9780306435911

Verlag:
Springer Science+Business Media

Einband:
Taschenbuch

Seitenzahl:
407

Veröffentlicht:
31 August 1990

Ausgabe:
11990

Abmessungen:
246x302x25 mm.

Gewicht:
726 g.

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