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Scanning Probe Microscopy

- Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale

Über Scanning Probe Microscopy

This volume will be devoted to the technical aspects of electrical and electromechanical SPM probes and SPM imaging on the limits of resolution, thus providing technical introduction into the field. This volume will also address the fundamental physical phenomena underpinning the imaging mechanism of SPMs.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9781493950362
  • Einband:
  • Taschenbuch
  • Seitenzahl:
  • 980
  • Veröffentlicht:
  • 4. November 2016
  • Ausgabe:
  • 12007
  • Gewicht:
  • 1578 g.
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Beschreibung von Scanning Probe Microscopy

This volume will be devoted to the technical aspects of electrical and electromechanical SPM probes and SPM imaging on the limits of resolution, thus providing technical introduction into the field. This volume will also address the fundamental physical phenomena underpinning the imaging mechanism of SPMs.

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