Große Auswahl an günstigen Büchern
Alles immer versandkostenfrei!
Schnelle Lieferung per Post und DHL
Kundenservice
Login
  1. Startseite
  2. Bücher
  3. Wirtschaft & Schule
  4. Wissenschaft
  5. Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS IV

Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS IV

- Proceedings of the Fourth International Conference, Osaka, Japan, November 13-19, 1983

enthalten in Springer Series in Chemical Physics-Reihe

Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS IV Sie sparen 11% des UVP sparen 11%
Über Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS IV

(4) Outstanding SIMS-related analytical methods such as laser-microprobe SIMS, sputtered neutral mass spectrometry, mass spectrometry of sputtered neutrals by multi-photon resonance ionization, and accelerator-based SIMS.

Mehr anzeigen
  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9783642822582
  • Einband:
  • Taschenbuch
  • Seitenzahl:
  • 506
  • Veröffentlicht:
  • 10. Januar 2012
  • Ausgabe:
  • 11984
  • Abmessungen:
  • 235x155x27 mm.
  • Gewicht:
  • 801 g.
  Versandkostenfrei
  Versandfertig in 1-2 Wochen.

Beschreibung von Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS IV

(4) Outstanding SIMS-related analytical methods such as laser-microprobe SIMS, sputtered neutral mass spectrometry, mass spectrometry of sputtered neutrals by multi-photon resonance ionization, and accelerator-based SIMS.

Kund*innenbewertungen von Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS IV



Andere kauften auch ...
Ähnliche Bücher finden
Das Buch Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS IV ist in den folgenden Kategorien erhältlich:

Willkommen bei den Tales Buchfreunden und -freundinnen

Jetzt zum Newsletter anmelden und tolle Angebote und Anregungen für Ihre nächste Lektüre erhalten.