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Semiconductor Device Reliability

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Über Semiconductor Device Reliability

Proceedings of the NATO Advanced Research Workshop, Heraklion, Crete, Greece, June 4-9, 1989

Sprache:
Englisch

ISBN:
9780792305361

Verlag:
Springer

Einband:
Gebundene Ausgabe

Seitenzahl:
575

Veröffentlicht:
31. Dezember 1989

Ausgabe:
1990

Abmessungen:
234x156x31 mm.

Gewicht:
2210 g.

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Beschreibung von Semiconductor Device Reliability

Proceedings of the NATO Advanced Research Workshop, Heraklion, Crete, Greece, June 4-9, 1989

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