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Soft Error Reliability of VLSI Circuits

- Analysis and Mitigation Techniques

Über Soft Error Reliability of VLSI Circuits

Coverage includes novel Soft Error Rate (SER) analysis techniques such as process variation aware SER estimation and GPU accelerated SER analysis techniques, in addition to SER reduction methods such as gate sizing and logic restructuring based SER techniques.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9783030516123
  • Einband:
  • Taschenbuch
  • Seitenzahl:
  • 114
  • Veröffentlicht:
  • 14. Oktober 2021
  • Ausgabe:
  • 12021
  • Abmessungen:
  • 155x235x0 mm.
  • Gewicht:
  • 209 g.
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Beschreibung von Soft Error Reliability of VLSI Circuits

Coverage includes novel Soft Error Rate (SER) analysis techniques such as process variation aware SER estimation and GPU accelerated SER analysis techniques, in addition to SER reduction methods such as gate sizing and logic restructuring based SER techniques.

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