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Speckle Metrology

von R.S. Sirohi

enthalten in Optical Science and Engineering-Reihe

Speckle Metrology von R.S. Sirohi
Über Speckle Metrology

Covers speckle metrology and its value as a measuring technique in industry. This book also surveys the origin of speckle displacement and decorrelation, presents procedures for deformation analysis and shape measurement of rough objects, and explains particle image velocimetry (PIV).

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9780824789329
  • Einband:
  • Gebundene Ausgabe
  • Seitenzahl:
  • 572
  • Veröffentlicht:
  • 20. Mai 1993
  • Abmessungen:
  • 152x229x31 mm.
  • Gewicht:
  • 861 g.
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Über R.S. Sirohi

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Beschreibung von Speckle Metrology

Covers speckle metrology and its value as a measuring technique in industry. This book also surveys the origin of speckle displacement and decorrelation, presents procedures for deformation analysis and shape measurement of rough objects, and explains particle image velocimetry (PIV).

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