Große Auswahl an günstigen Büchern
Schnelle Lieferung per Post und DHL

Surface and Interface Characterization by Electron Optical Methods

Über Surface and Interface Characterization by Electron Optical Methods

The importance of real space imaging and spatially-resolved spectroscopy in many of the most significant problems of surface and interface behaviour is almost self evident.

Mehr anzeigen
  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9781461595397
  • Einband:
  • Taschenbuch
  • Seitenzahl:
  • 319
  • Veröffentlicht:
  • 1. Januar 1989
  • Ausgabe:
  • 11988
  • Abmessungen:
  • 244x170x17 mm.
  • Gewicht:
  • 575 g.
  Versandkostenfrei
  Versandfertig in 1-2 Wochen.
Verlängerte Rückgabefrist bis 31. Januar 2025
  •  

    Keine Lieferung vor Weihnachten möglich.
    Kaufen Sie jetzt und drucken Sie einen Gutschein aus

Beschreibung von Surface and Interface Characterization by Electron Optical Methods

The importance of real space imaging and spatially-resolved spectroscopy in many of the most significant problems of surface and interface behaviour is almost self evident.

Kund*innenbewertungen von Surface and Interface Characterization by Electron Optical Methods



Ähnliche Bücher finden
Das Buch Surface and Interface Characterization by Electron Optical Methods ist in den folgenden Kategorien erhältlich:

Willkommen bei den Tales Buchfreunden und -freundinnen

Jetzt zum Newsletter anmelden und tolle Angebote und Anregungen für Ihre nächste Lektüre erhalten.