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Über Surface and Interface Characterization by Electron Optical Methods

The importance of real space imaging and spatially-resolved spectroscopy in many of the most significant problems of surface and interface behaviour is almost self evident.

Sprache:
Englisch

ISBN:
9781461595397

Verlag:
Springer-Verlag New York Inc.

Einband:
Taschenbuch

Seitenzahl:
319

Veröffentlicht:
1. Januar 1989

Ausgabe:
11988

Abmessungen:
244x170x17 mm.

Gewicht:
575 g.

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Beschreibung von Surface and Interface Characterization by Electron Optical Methods

The importance of real space imaging and spatially-resolved spectroscopy in many of the most significant problems of surface and interface behaviour is almost self evident.

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