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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects

Über Test and Diagnosis for Small-Delay Defects

This book will introduce new techniques for detecting and diagnosing small-delay defects in integrated circuits.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9781441982964
  • Einband:
  • Gebundene Ausgabe
  • Seitenzahl:
  • 212
  • Veröffentlicht:
  • 10. September 2011
  • Ausgabe:
  • 2012
  • Abmessungen:
  • 234x156x14 mm.
  • Gewicht:
  • 518 g.
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Beschreibung von Test and Diagnosis for Small-Delay Defects

This book will introduce new techniques for detecting and diagnosing small-delay defects in integrated circuits.

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