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Testing Static Random Access Memories

- Defects, Fault Models and Test Patterns

von Said Hamdioui

enthalten in Frontiers in Electronic Testing-Reihe

Testing Static Random Access Memories von Said Hamdioui
Über Testing Static Random Access Memories

Features: -Fault primitive based analysis of memory faults, -A complete framework of and classification memory faults, -A systematic way to develop optimal and high quality memory test algorithms, -A systematic way to develop test patterns for any multi-port SRAM, -Challenges and trends in embedded memory testing.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9781402077524
  • Einband:
  • Gebundene Ausgabe
  • Seitenzahl:
  • 221
  • Veröffentlicht:
  • 31. März 2004
  • Ausgabe:
  • 2004
  • Abmessungen:
  • 235x155x14 mm.
  • Gewicht:
  • 1150 g.
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Über Said Hamdioui

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Beschreibung von Testing Static Random Access Memories

Features: -Fault primitive based analysis of memory faults, -A complete framework of and classification memory faults, -A systematic way to develop optimal and high quality memory test algorithms, -A systematic way to develop test patterns for any multi-port SRAM, -Challenges and trends in embedded memory testing.

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