Name: Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
Price: 80.00 EUR
Availability: InStock
Author: James Howe
ISBN: 9783642433153

Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials von James Howe

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Über Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials

This book explains concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials.

Sprache:
Englisch

ISBN:
9783642433153

Verlag:
Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG

Einband:
Taschenbuch

Seitenzahl:
764

Veröffentlicht:
5. Juni 2012

Ausgabe:
42013

Abmessungen:
237x156x44 mm.

Gewicht:
1154 g.

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