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  5. Transmission Electron Microscopy of Semiconductor Nanostructures

Transmission Electron Microscopy of Semiconductor Nanostructures

- An Analysis of Composition and Strain State

von Andreas Rosenauer

enthalten in Springer Tracts in Modern Physics-Reihe

Transmission Electron Microscopy of Semiconductor Nanostructures von Andreas Rosenauer
Über Transmission Electron Microscopy of Semiconductor Nanostructures

This book provides tools well suited for thequantitative investigation of semiconductor electron microscopy. The bookfocuses on new methods including strain stateanalysis as well as evaluation of the compositionvia the lattice fringe analysis (CELFA) technique.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9783662146187
  • Einband:
  • Taschenbuch
  • Seitenzahl:
  • 241
  • Veröffentlicht:
  • 13. Juni 2013
  • Ausgabe:
  • 12003
  • Abmessungen:
  • 235x155x14 mm.
  • Gewicht:
  • 397 g.
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Über Andreas Rosenauer

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Beschreibung von Transmission Electron Microscopy of Semiconductor Nanostructures

This book provides tools well suited for thequantitative investigation of semiconductor electron microscopy. The bookfocuses on new methods including strain stateanalysis as well as evaluation of the compositionvia the lattice fringe analysis (CELFA) technique.

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