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Transport in Metal-Oxide-Semiconductor Structures

- Mobile Ions Effects on the Oxide Properties

Über Transport in Metal-Oxide-Semiconductor Structures

This book focuses on the importance of mobile ions presented in oxide structures, what significantly affects the metal-oxide-semiconductor (MOS) properties. The reading starts with the definition of the MOS structure, its various aspects and different types of charges presented in their structure.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9783642266881
  • Einband:
  • Taschenbuch
  • Seitenzahl:
  • 106
  • Veröffentlicht:
  • 24. Februar 2013
  • Ausgabe:
  • 2011
  • Abmessungen:
  • 235x155x6 mm.
  • Gewicht:
  • 195 g.
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Beschreibung von Transport in Metal-Oxide-Semiconductor Structures

This book focuses on the importance of mobile ions presented in oxide structures, what significantly affects the metal-oxide-semiconductor (MOS) properties. The reading starts with the definition of the MOS structure, its various aspects and different types of charges presented in their structure.

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