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X-Ray Absorption Spectroscopy of Semiconductors

Über X-Ray Absorption Spectroscopy of Semiconductors

Through a series of comprehensive reviews, this book demonstrates the versatility of XAS for semiconductor materials analysis and presents important research activities in this ever growing field. This book provides a comprehensive review and valuable reference guide for both XAS newcomers and experts involved in semiconductor materials research.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9783662522127
  • Einband:
  • Taschenbuch
  • Seitenzahl:
  • 361
  • Veröffentlicht:
  • 23. August 2016
  • Ausgabe:
  • 12015
  • Abmessungen:
  • 235x155x20 mm.
  • Gewicht:
  • 5737 g.
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Beschreibung von X-Ray Absorption Spectroscopy of Semiconductors

Through a series of comprehensive reviews, this book demonstrates the versatility of XAS for semiconductor materials analysis and presents important research activities in this ever growing field. This book provides a comprehensive review and valuable reference guide for both XAS newcomers and experts involved in semiconductor materials research.

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