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X-Ray Microscopy II

- Proceedings of the International Symposium, Brookhaven, NY, August 31-September 4, 1987

enthalten in Springer Series in Optical Sciences-Reihe

X-Ray Microscopy II
Über X-Ray Microscopy II

This volume is based on papers presented at the International Symposium on X-Ray Microscopy held at Brookhaven National Laboratory, Upton NY, August 31-September 4, 1987.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9783662144909
  • Einband:
  • Taschenbuch
  • Seitenzahl:
  • 455
  • Veröffentlicht:
  • 17. März 2013
  • Ausgabe:
  • 11988
  • Abmessungen:
  • 229x152x24 mm.
  • Gewicht:
  • 686 g.
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Beschreibung von X-Ray Microscopy II

This volume is based on papers presented at the International Symposium on X-Ray Microscopy held at Brookhaven National Laboratory, Upton NY, August 31-September 4, 1987.

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