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  5. Advanced Test Methods for SRAMs

Advanced Test Methods for SRAMs

- Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies

von Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel
Advanced Test Methods for SRAMs von Alberto Bosio Sie sparen 15% des UVP sparen 15%
Über Advanced Test Methods for SRAMs

Modern electronics depend on nanoscaled technologies that present new challenges in terms of testing and diagnostics. Classical methods for testing memory are designed to handle the so-called "static faults," but these test solutions are not sufficient for faults that are emerging in the latest Very Deep Sub-Micron (VDSM) technologies.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9781489983145
  • Einband:
  • Taschenbuch
  • Seitenzahl:
  • 171
  • Veröffentlicht:
  • 3. September 2014
  • Ausgabe:
  • 2010
  • Abmessungen:
  • 235x155x10 mm.
  • Gewicht:
  • 297 g.
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Über Alberto Bosio

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Beschreibung von Advanced Test Methods for SRAMs

Modern electronics depend on nanoscaled technologies that present new challenges in terms of testing and diagnostics. Classical methods for testing memory are designed to handle the so-called "static faults," but these test solutions are not sufficient for faults that are emerging in the latest Very Deep Sub-Micron (VDSM) technologies.

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