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Artificial Intelligence Approach to Test Generation

von Narinder Singh

enthalten in The Springer International Series in Engineering and Computer Science-Reihe

Artificial Intelligence Approach to Test Generation von Narinder Singh
Über Artificial Intelligence Approach to Test Generation

I am indebted to my thesis advisor, Michael Genesereth, for his guidance, inspiration, and support which has made this research possible. This research was supported by Schlumberger Palo Alto Research (previously Fairchild Laboratory for Artificial Intelligence).

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9780898381856
  • Einband:
  • Gebundene Ausgabe
  • Seitenzahl:
  • 194
  • Veröffentlicht:
  • 28. Februar 1987
  • Ausgabe:
  • 1987
  • Abmessungen:
  • 235x155x12 mm.
  • Gewicht:
  • 1050 g.
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Über Narinder Singh

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Beschreibung von Artificial Intelligence Approach to Test Generation

I am indebted to my thesis advisor, Michael Genesereth, for his guidance, inspiration, and support which has made this research possible. This research was supported by Schlumberger Palo Alto Research (previously Fairchild Laboratory for Artificial Intelligence).

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