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Artificial Intelligence Approach to Test Generation

von Narinder Singh

enthalten in The Springer International Series in Engineering and Computer Science-Reihe

Artificial Intelligence Approach to Test Generation von Narinder Singh Sie sparen 12% des UVP sparen 12%
Über Artificial Intelligence Approach to Test Generation

I am indebted to my thesis advisor, Michael Genesereth, for his guidance, inspiration, and support which has made this research possible. This research was supported by Schlumberger Palo Alto Research (previously Fairchild Laboratory for Artificial Intelligence).

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9781461291831
  • Einband:
  • Taschenbuch
  • Seitenzahl:
  • 194
  • Veröffentlicht:
  • 5. Oktober 2011
  • Ausgabe:
  • 11987
  • Abmessungen:
  • 235x155x11 mm.
  • Gewicht:
  • 332 g.
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Über Narinder Singh

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Beschreibung von Artificial Intelligence Approach to Test Generation

I am indebted to my thesis advisor, Michael Genesereth, for his guidance, inspiration, and support which has made this research possible. This research was supported by Schlumberger Palo Alto Research (previously Fairchild Laboratory for Artificial Intelligence).

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