Name: Assessing Fault Model and Test Quality
Price: 95.00 EUR
Availability: InStock
Author: Kenneth M. Butler
ISBN: 9780792392224

Assessing Fault Model and Test Quality von Kenneth M. Butler

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Über Assessing Fault Model and Test Quality

For many years, the dominant fault model in automatic test pattern gen eration (ATPG) for digital integrated circuits has been the stuck-at fault model.

Sprache:
Englisch

ISBN:
9780792392224

Verlag:
Springer

Einband:
Gebundene Ausgabe

Seitenzahl:
132

Veröffentlicht:
31. Oktober 1991

Ausgabe:
1992

Abmessungen:
234x156x11 mm.

Gewicht:
880 g.

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