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Auger- and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science

- A User-Oriented Guide

von Siegfried Hofmann

enthalten in Springer Series in Surface Sciences-Reihe

Auger- and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science von Siegfried Hofmann
Über Auger- and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science

Key chapters are those on quantitative surface analysis and on quantitative depth profiling, including recent developments in topics such as surface excitation parameter and backscattering correction factor.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9783642273803
  • Einband:
  • Gebundene Ausgabe
  • Seitenzahl:
  • 528
  • Veröffentlicht:
  • 25. Oktober 2012
  • Ausgabe:
  • 2013
  • Abmessungen:
  • 161x241x34 mm.
  • Gewicht:
  • 940 g.
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Über Siegfried Hofmann

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Beschreibung von Auger- and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science

Key chapters are those on quantitative surface analysis and on quantitative depth profiling, including recent developments in topics such as surface excitation parameter and backscattering correction factor.

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