Name: Auger- and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science
Price: 276.00 EUR
Availability: InStock
Author: Siegfried Hofmann
ISBN: 9783642431739

Auger- and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science von Siegfried Hofmann

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Über Auger- and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science

Key chapters are those on quantitative surface analysis and on quantitative depth profiling, including recent developments in topics such as surface excitation parameter and backscattering correction factor.

Sprache:
Englisch

ISBN:
9783642431739

Verlag:
Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG

Einband:
Taschenbuch

Seitenzahl:
528

Veröffentlicht:
15. November 2010

Ausgabe:
2013

Abmessungen:
154x234x38 mm.

Gewicht:
814 g.

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