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Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs

von Mohammed Ismail, Sleiman Bou-Sleiman

enthalten in SpringerBriefs in Electrical and Computer Engineering-Reihe

Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs von Mohammed Ismail Sie sparen 14% des UVP sparen 14%
Über Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs

This book will introduce design methodologies, known as Built-in-Self-Test (BiST) and Built-in-Self-Calibration (BiSC), which enhance the robustness of radio frequency (RF) and millimeter wave (mmWave) integrated circuits (ICs).

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9781441995476
  • Einband:
  • Taschenbuch
  • Seitenzahl:
  • 89
  • Veröffentlicht:
  • 22 September 2011
  • Ausgabe:
  • 2012
  • Abmessungen:
  • 234x156x5 mm.
  • Gewicht:
  • 180 g.
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Über Mohammed Ismail

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Beschreibung von Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs

This book will introduce design methodologies, known as Built-in-Self-Test (BiST) and Built-in-Self-Calibration (BiSC), which enhance the robustness of radio frequency (RF) and millimeter wave (mmWave) integrated circuits (ICs).

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