Große Auswahl an günstigen Büchern
Alles immer versandkostenfrei!
Schnelle Lieferung per Post und DHL
Kundenservice
Login
  1. Startseite
  2. Bücher
  3. Characterization of Wheat Germplasm for Yield and Root Trait

Characterization of Wheat Germplasm for Yield and Root Trait

von Muhammad Sajid
Characterization of Wheat Germplasm for Yield and Root Traitvon Muhammad Sajid Sie sparen 16% des UVP sparen 16%
  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9783846523957
  • Einband:
  • Taschenbuch
  • Seitenzahl:
  • 80
  • Veröffentlicht:
  • 7. April 2012
  • Abmessungen:
  • 150x5x220 mm.
  • Gewicht:
  • 137 g.
  Versandkostenfrei
  Versandfertig in 1-2 Wochen.

Über Muhammad Sajid

Alle Bücher von Muhammad Sajid anzeigen

Kund*innenbewertungen von Characterization of Wheat Germplasm for Yield and Root Trait



Andere kauften auch ...

Willkommen bei den Tales Buchfreunden und -freundinnen

Jetzt zum Newsletter anmelden und tolle Angebote und Anregungen für Ihre nächste Lektüre erhalten.