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Delay Fault Testing for VLSI Circuits

Über Delay Fault Testing for VLSI Circuits

In that sense, this book is the best x DELAY FAULT TESTING FOR VLSI CIRCUITS available guide for an engineer designing or testing VLSI systems. Tech niques for path delay testing and for use of slower test equipment to test high-speed circuits are of particular interest.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9781461375616
  • Einband:
  • Taschenbuch
  • Seitenzahl:
  • 191
  • Veröffentlicht:
  • 31. Oktober 1998
  • Ausgabe:
  • 11998
  • Abmessungen:
  • 235x155x11 mm.
  • Gewicht:
  • 326 g.
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Beschreibung von Delay Fault Testing for VLSI Circuits

In that sense, this book is the best x DELAY FAULT TESTING FOR VLSI CIRCUITS available guide for an engineer designing or testing VLSI systems. Tech niques for path delay testing and for use of slower test equipment to test high-speed circuits are of particular interest.

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