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Dislocation and strain relaxation at III-V semiconductor interface

von Yi Wang
Dislocation and strain relaxation at III-V semiconductor interface von Yi Wang Sie sparen 17% des UVP sparen 17%
  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9783659222856
  • Einband:
  • Taschenbuch
  • Seitenzahl:
  • 132
  • Veröffentlicht:
  • 21. August 2012
  • Abmessungen:
  • 229x152x8 mm.
  • Gewicht:
  • 204 g.
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