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From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss

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Über From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss

Given such a high level of investment, it is critical for IC manufacturers to reduce manufacturing costs and get a better return on their investment. The most obvious method of reducing the manufacturing cost per die is to improve manufacturing yield.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9781461285953
  • Einband:
  • Taschenbuch
  • Seitenzahl:
  • 150
  • Veröffentlicht:
  • 26 September 2011
  • Ausgabe:
  • 11996
  • Abmessungen:
  • 234x156x9 mm.
  • Gewicht:
  • 272 g.
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Beschreibung von From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss

Given such a high level of investment, it is critical for IC manufacturers to reduce manufacturing costs and get a better return on their investment. The most obvious method of reducing the manufacturing cost per die is to improve manufacturing yield.

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