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From scientific instrument to industrial machine

- Coping with architectural stress in embedded systems

Über From scientific instrument to industrial machine

Architectural stress is the inability of a system design to respond to new market demands. It is an important yet often concealed issue in high tech systems. In this book, the authors look at the phenomenon of architectural stress in embedded systems in the context of a transmission electron microscope system built by FEI Company.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9789400741461
  • Einband:
  • Taschenbuch
  • Seitenzahl:
  • 112
  • Veröffentlicht:
  • 27. April 2012
  • Ausgabe:
  • 2012
  • Abmessungen:
  • 234x156x6 mm.
  • Gewicht:
  • 203 g.
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Beschreibung von From scientific instrument to industrial machine

Architectural stress is the inability of a system design to respond to new market demands. It is an important yet often concealed issue in high tech systems. In this book, the authors look at the phenomenon of architectural stress in embedded systems in the context of a transmission electron microscope system built by FEI Company.

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