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Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design

von Jens Lienig, Matthias Thiele
Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design von Jens Lienig Sie sparen 14% des UVP sparen 14%
Über Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design

The book provides a comprehensive overview of electromigration and its effects on the reliability of electronic circuits. A comprehensive set of options is presented for modifying the present IC design methodology to prevent electromigration.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9783030088118
  • Einband:
  • Taschenbuch
  • Seitenzahl:
  • 159
  • Veröffentlicht:
  • 14. Dezember 2018
  • Ausgabe:
  • 12018
  • Gewicht:
  • 279 g.
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Über Jens Lienig

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Beschreibung von Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design

The book provides a comprehensive overview of electromigration and its effects on the reliability of electronic circuits. A comprehensive set of options is presented for modifying the present IC design methodology to prevent electromigration.

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