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Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design

von Jens Lienig
Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design von Jens Lienig Sie sparen 15% des UVP sparen 15%
Über Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design

The book provides a comprehensive overview of electromigration and its effects on the reliability of electronic circuits. A comprehensive set of options is presented for modifying the present IC design methodology to prevent electromigration.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9783319735573
  • Einband:
  • Gebundene Ausgabe
  • Seitenzahl:
  • 159
  • Veröffentlicht:
  • 7. März 2018
  • Ausgabe:
  • 12018
  • Abmessungen:
  • 241x166x12 mm.
  • Gewicht:
  • 434 g.
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Beschreibung von Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design

The book provides a comprehensive overview of electromigration and its effects on the reliability of electronic circuits. A comprehensive set of options is presented for modifying the present IC design methodology to prevent electromigration.

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