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Helium Ion Microscopy

enthalten in NanoScience and Technology-Reihe

Helium Ion Microscopy
Über Helium Ion Microscopy

This book covers the fundamentals of Helium Ion Microscopy (HIM) including the Gas Field Ion Source (GFIS), column and contrast formation. The expert reader will find a complete reference of the technique covering all important applications in several chapters written by the leading experts in the field.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9783319824734
  • Einband:
  • Taschenbuch
  • Seitenzahl:
  • 526
  • Veröffentlicht:
  • 16. Juni 2018
  • Ausgabe:
  • 12016
  • Abmessungen:
  • 155x235x0 mm.
  • Gewicht:
  • 836 g.
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Beschreibung von Helium Ion Microscopy

This book covers the fundamentals of Helium Ion Microscopy (HIM) including the Gas Field Ion Source (GFIS), column and contrast formation. The expert reader will find a complete reference of the technique covering all important applications in several chapters written by the leading experts in the field.

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