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Interfacial Compatibility in Microelectronics

- Moving Away from the Trial and Error Approach

von Tomi Laurila, Vesa Vuorinen, Markus Turunen, Toni T. Mattila, Jorma Kivilahti, Mervi Paulasto-Kroeckel

enthalten in Microsystems-Reihe

Interfacial Compatibility in Microelectronics von Tomi Laurila Sie sparen 13% des UVP sparen 13%
Über Interfacial Compatibility in Microelectronics

This book provides solutions to several common reliability issues in microsystem packaging. It teaches the reader methods to understand and predict failure mechanisms at interfaces between dissimilar materials.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9781447124696
  • Einband:
  • Gebundene Ausgabe
  • Seitenzahl:
  • 218
  • Veröffentlicht:
  • 10. Januar 2012
  • Ausgabe:
  • 2012
  • Abmessungen:
  • 235x155x18 mm.
  • Gewicht:
  • 512 g.
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Über Tomi Laurila

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Beschreibung von Interfacial Compatibility in Microelectronics

This book provides solutions to several common reliability issues in microsystem packaging. It teaches the reader methods to understand and predict failure mechanisms at interfaces between dissimilar materials.

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