Name: Logic Testing and Design for Testability
Price: 39.00 EUR
Availability: InStock
Author: Hideo Fujiwara
ISBN: 9780262561990

Logic Testing and Design for Testability von Hideo Fujiwara

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Taschenbuch
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Über Logic Testing and Design for Testability

Design for testability techniques offer one approach toward alleviating this situation by adding enough extra circuitry to a circuit or chip to reduce the complexity of testing.

Sprache:
Englisch

ISBN:
9780262561990

Verlag:
MIT Press Ltd

Einband:
Taschenbuch

Seitenzahl:
304

Veröffentlicht:
31. Juli 1985

Abmessungen:
229x152x25 mm.

Gewicht:
503 g.

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