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  5. Metrology and Physical Mechanisms in New Generation Ionic Devices

Metrology and Physical Mechanisms in New Generation Ionic Devices

von Umberto Celano

enthalten in Springer Theses-Reihe

Metrology and Physical Mechanisms in New Generation Ionic Devices von Umberto Celano Sie sparen 12% des UVP sparen 12%
Über Metrology and Physical Mechanisms in New Generation Ionic Devices

This thesis presents the first direct observations of the 3D-shape, size and electrical properties of nanoscale filaments, made possible by a new Scanning Probe Microscopy-based tomography technique referred to as scalpel SPM.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9783319819068
  • Einband:
  • Taschenbuch
  • Seitenzahl:
  • 175
  • Veröffentlicht:
  • 7. Juni 2018
  • Ausgabe:
  • 12016
  • Abmessungen:
  • 155x235x0 mm.
  • Gewicht:
  • 454 g.
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Über Umberto Celano

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Beschreibung von Metrology and Physical Mechanisms in New Generation Ionic Devices

This thesis presents the first direct observations of the 3D-shape, size and electrical properties of nanoscale filaments, made possible by a new Scanning Probe Microscopy-based tomography technique referred to as scalpel SPM.

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