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Nanomechanical and Nanoelectromechanical Phenomena in 2D Atomic Crystals

- A Scanning Probe Microscopy Approach

enthalten in Springer Theses-Reihe

Über Nanomechanical and Nanoelectromechanical Phenomena in 2D Atomic Crystals

This thesis introduces a unique approach of applying atomic force microscopy to study the nanoelectromechanical properties of 2D materials, providing high-resolution computer-generated imagery (CGI) and diagrams to aid readers' understanding and visualization.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9783319888989
  • Einband:
  • Taschenbuch
  • Seitenzahl:
  • 122
  • Veröffentlicht:
  • 4. September 2018
  • Ausgabe:
  • 12018
  • Gewicht:
  • 232 g.
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Beschreibung von Nanomechanical and Nanoelectromechanical Phenomena in 2D Atomic Crystals

This thesis introduces a unique approach of applying atomic force microscopy to study the nanoelectromechanical properties of 2D materials, providing high-resolution computer-generated imagery (CGI) and diagrams to aid readers' understanding and visualization.

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