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Nanometer Variation-Tolerant SRAM

- Circuits and Statistical Design for Yield

Über Nanometer Variation-Tolerant SRAM

This essential reference combines state-of-the-art circuit techniques and statistical methodologies to optimize SRAM performance and yield in nanometer technologies. It shows designers how to apply practical techniques that optimize memory yield.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9781461417484
  • Einband:
  • Gebundene Ausgabe
  • Seitenzahl:
  • 172
  • Veröffentlicht:
  • 27. September 2012
  • Ausgabe:
  • 2013
  • Abmessungen:
  • 235x155x15 mm.
  • Gewicht:
  • 4085 g.
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Beschreibung von Nanometer Variation-Tolerant SRAM

This essential reference combines state-of-the-art circuit techniques and statistical methodologies to optimize SRAM performance and yield in nanometer technologies. It shows designers how to apply practical techniques that optimize memory yield.

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