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Nanoscale Redox Reaction at Metal/Oxide Interface

- A Case Study on Schottky Contact and ReRAM

enthalten in NIMS Monographs-Reihe

Über Nanoscale Redox Reaction at Metal/Oxide Interface

Oxide materials are good candidates for replacing Si devices, which are increasingly reaching their performance limits, since the former offer a range of unique properties, due to their composition, design and/or doping techniques.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9784431548492
  • Einband:
  • Taschenbuch
  • Seitenzahl:
  • 89
  • Veröffentlicht:
  • 22. Mai 2020
  • Ausgabe:
  • 12020
  • Abmessungen:
  • 155x235x0 mm.
  • Gewicht:
  • 454 g.
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Beschreibung von Nanoscale Redox Reaction at Metal/Oxide Interface

Oxide materials are good candidates for replacing Si devices, which are increasingly reaching their performance limits, since the former offer a range of unique properties, due to their composition, design and/or doping techniques.

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