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Physical Principles of Electron Microscopy

- An Introduction to TEM, SEM, and AEM

Über Physical Principles of Electron Microscopy

Scanning and stationary-beam electron microscopes are indispensable tools for both research and routine evaluation in materials science, the semiconductor industry, nanotechnology and the biological, forensic, and medical sciences.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9783319819860
  • Einband:
  • Taschenbuch
  • Seitenzahl:
  • 196
  • Veröffentlicht:
  • 30. Mai 2018
  • Ausgabe:
  • 22016
  • Abmessungen:
  • 234x156x16 mm.
  • Gewicht:
  • 334 g.
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Beschreibung von Physical Principles of Electron Microscopy

Scanning and stationary-beam electron microscopes are indispensable tools for both research and routine evaluation in materials science, the semiconductor industry, nanotechnology and the biological, forensic, and medical sciences.

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