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Reliability of Nanoscale Circuits and Systems

- Methodologies and Circuit Architectures

Über Reliability of Nanoscale Circuits and Systems

This book is intended to give a general overview of reliability, faults, fault models, nanotechnology, nanodevices, fault-tolerant architectures and reliability evaluation techniques.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9781441962164
  • Einband:
  • Gebundene Ausgabe
  • Seitenzahl:
  • 195
  • Veröffentlicht:
  • 21 Oktober 2010
  • Abmessungen:
  • 235x155x18 mm.
  • Gewicht:
  • 506 g.
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Beschreibung von Reliability of Nanoscale Circuits and Systems

This book is intended to give a general overview of reliability, faults, fault models, nanotechnology, nanodevices, fault-tolerant architectures and reliability evaluation techniques.

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