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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

- A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists

von Patrick Echlin, Joseph Goldstein, David C. Joy, Dale E. Newbury, Eric Lifshin, Charles Fiori
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis von Patrick Echlin Sie sparen 10% des UVP sparen 10%
  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9781461332756
  • Einband:
  • Taschenbuch
  • Seitenzahl:
  • 673
  • Veröffentlicht:
  • 20. März 2013
  • Ausgabe:
  • 1981
  • Abmessungen:
  • 158x234x37 mm.
  • Gewicht:
  • 1044 g.
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