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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

- Third Edition

Über Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

This text provides students as well as practitioners with a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM) and X-ray microanalysis. Topics discussed include user-controlled functions of scanning electron microscopes and x-ray spectrometers and the use of x-rays for qualitative and quantitative analysis.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9781461349693
  • Einband:
  • Taschenbuch
  • Seitenzahl:
  • 689
  • Veröffentlicht:
  • 31. Mai 2013
  • Ausgabe:
  • 320033
  • Abmessungen:
  • 182x255x43 mm.
  • Gewicht:
  • 1310 g.
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Beschreibung von Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

This text provides students as well as practitioners with a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM) and X-ray microanalysis. Topics discussed include user-controlled functions of scanning electron microscopes and x-ray spectrometers and the use of x-rays for qualitative and quantitative analysis.

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