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Scanning Probe Microscopy

- Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy

von Bert Voigtlander

enthalten in NanoScience and Technology-Reihe

Scanning Probe Microscopy von Bert Voigtlander
Über Scanning Probe Microscopy

This book explains the operating principles of atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy. The aim of this book is to enable the reader to operate a scanning probe microscope successfully and understand the data obtained with the microscope.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9783662452394
  • Einband:
  • Gebundene Ausgabe
  • Seitenzahl:
  • 382
  • Veröffentlicht:
  • 25. Februar 2015
  • Ausgabe:
  • 2015
  • Abmessungen:
  • 245x164x26 mm.
  • Gewicht:
  • 746 g.
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Über Bert Voigtlander

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Beschreibung von Scanning Probe Microscopy

This book explains the operating principles of atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy. The aim of this book is to enable the reader to operate a scanning probe microscope successfully and understand the data obtained with the microscope.

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