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Scanning Probe Microscopy

- Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy

von Bert Voigtlander

enthalten in NanoScience and Technology-Reihe

Scanning Probe Microscopy von Bert Voigtlander
Über Scanning Probe Microscopy

This book explains the operating principles of atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy. The aim of this book is to enable the reader to operate a scanning probe microscope successfully and understand the data obtained with the microscope.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9783662505571
  • Einband:
  • Taschenbuch
  • Seitenzahl:
  • 382
  • Veröffentlicht:
  • 13. Oktober 2016
  • Ausgabe:
  • 12015
  • Abmessungen:
  • 235x155x21 mm.
  • Gewicht:
  • 6029 g.
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Beschreibung von Scanning Probe Microscopy

This book explains the operating principles of atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy. The aim of this book is to enable the reader to operate a scanning probe microscope successfully and understand the data obtained with the microscope.

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