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Strain-Induced Effects in Advanced MOSFETs

Über Strain-Induced Effects in Advanced MOSFETs

Strain is used to boost performance of MOSFETs. Modeling of strain effects on transport is an important task of modern simulation tools required for device design. The book covers all relevant modeling approaches used to describe strain in silicon. A rigorous overview of transport modeling in strained devices is given.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9783709119334
  • Einband:
  • Taschenbuch
  • Seitenzahl:
  • 252
  • Veröffentlicht:
  • 23. August 2016
  • Ausgabe:
  • 12011
  • Abmessungen:
  • 168x240x0 mm.
  • Gewicht:
  • 459 g.
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Beschreibung von Strain-Induced Effects in Advanced MOSFETs

Strain is used to boost performance of MOSFETs. Modeling of strain effects on transport is an important task of modern simulation tools required for device design. The book covers all relevant modeling approaches used to describe strain in silicon. A rigorous overview of transport modeling in strained devices is given.

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